Универсальные испытательные машины SHIMADZU AG-IC
Микротвердомер BuehlerMicromet 5103 BUEHLER
Динамический-микротвердомер Shimadzu DUH-211s
Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6490LV с системой микроанализа INCA Energy 450 x-МАХ 50 Premium
Металлографический инвертированный микроскоп Zeiss Axio Observer 3
Технические характеристики
Возможности:
Проведение широкого диапазона испытаний на прочность от испытаний на статическую прочность до испытаний на усталостную прочность с большим количеством циклов нагружений. Максимальная испытательная нагрузка: динамическая – 200 кН, статическая – 240 кН. Ход при испытании до ±50 мм.

Технические характеристики
Технические характеристики: нагрузка 50кН, 300кН, соответствует классу точности 1 по ISO 7500. Диапазон скорости траверсы от 0,0005 до 500 мм/мин. Максимальный ход при растяжении 600 мм. Видеоэкстензометр TRViewX 240S, соответствует классу точности 0,5 по ISO 9513, диапазон измерений240 мм.
Возможные испытания:
Испытание на растяжение, сжатие, трех точечный изгиб при комнатной температуре.
Испытания канатов, проволоки на растяжение в барабанных захватах.

Технические характеристики
Параметры микротвердомера:
Тип прибора: цифровой с выносным LCD пультом управления
Тестовые нагрузки: 10, 25, 50, 100, 200, 300, 500, 1000 гр.
Тип турели: ручная
Объективы: два - ´10 и ´50
Индентер: один (Виккерс или Кнуп)
Управление нагружением: автоматическое
Время приложения нагрузки: 1-30 сек.
Освещение: 50 Вт галогеновая лампа с настраиваемой апертурой
Предметный стол: ручной двухкоординатный
Диапазон перемещения стола: 25´25мм
Микровинты: цифровые с точностью 0.001 мм.

Технические характеристики
Основные возможности:
Определение твердости и параметров материала в соответствии с принятыми стандартами (ISO 14577-1 Annex A. “Металлические материалы. Инструментальное индентирование для определения твердости и параметров материала – Часть 1: Метод испытания. Приложение А.
Определение параметров материалов по данным "нагрузка/ поверхность индентирования”)
Высокоточное определение модуля упругости
Контроль силы, прикладываемой в процессе испытания с разрешением 0,196 мкН
Широкий диапазон нагрузок от 0,1 до 1961 мН
Высокоточное измерение глубины следа
Широкий диапазон методов испытаний
Возможность выбора идентеров, в том числе и для проведения испытаний по Виккерсу и Кнупу
Проведение циклических испытаний
Области применения:
Тонкие пленки (специально обработанные поверхности, например, нитридный слой)
Пластики
Резины, каучуки и другие эластомеры
Металлические изделия
Волокна (ультратонкие, такие как оптические волокна и углеродные волокна)
Хрупкие материалы (стекло, керамика и т.д)
Микроскопические компоненты электроники

Технические характеристики
Технические характеристики: копер маятниковый МК-30 с наибольшим запасом потенциальной энергии 300кгс•м (~300Дж), 150кгс•м (~150Дж).
Возможные испытания: испытания образцов 1-3, 5-13 и 19-го типов металлов и сплавов на двухопорный ударный изгиб по ГОСТ 9454-78 (метод Шарпи).

Технические характеристики
Технические характеристики электронного микроскопа:
термоэмиссионный источник электронов;
ускоряющее напряжение 0,3 – 30 кВ;
увеличение от x 5 до x 300 000;
разрешение до 3,0 нм (при ускоряющем 30 кВ);
виды контраста (вторичные и отраженные электроны): топографический, композиционный, теневой;
столик для образцов эвцентрического типа с компьютерным управлением.
Направления использования:
исследование микроструктуры различных материалов неорганического происхождения;
топографический и качественный фазовый анализ поверхности;
возможность исследования крупногабаритных образцов (высота до 45 мм, диаметр до 200 мм).

Технические характеристики
Основные особенности:
Бинокулярная насадка с углом наклона 45 °, видеовыход
Револьверное устройство для установки 6 объективов: 50x, 100x, 200x, 500x, 1000x
Предметный столик 250х230мм
Большой выбор методов контрастирования
Circular Differential Interference Contrast (C-DIC) - круговой дифференциально-интерференционный контраст
Блок для реализации темного поля в отраженном свете (Reflector module darkfield ACR P&C for reflected light)
Возможные исследования:
Оценка среднего размера зерна (ГОСТ 5639-82, ГОСТ 21073-75, astm e1382, astm e112, din 50 601.)
Оценка загрязненности стали неметаллическими включениями (astm e1245.)
Оценка микроструктуры графита в чугуне
Шаровидность графита в чугуне
Оценка качества материалов на основе графита ГОСТ 26132-84.
Определение пористости материалов на основе углерода.
Методика выполнения измерений процентного содержания графита в образцах углеродных материалов.
Методика выполнения измерения анизометричности зерен.
Определение структурной полосчатости стали
Оценка микроструктуры перлита
Определение размера перлитных колоний.
Определение процентного соотношения сорбитообразного и пластинчатого перлита.
Оценка металлургического качества жаропрочных никелевых сплавов
Оценка качества двухфазных титановых сплавов
Измерение слоев и покрытий
Методы сравнения с эталонами
